DCM-40错位测量显微镜

更新：2024-12-10 10:00 编号：8018350 发布IP：120.229.24.33 浏览：165次

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关键词: DCM-40 DCM-40错位测量显微镜 DCM-40测量显微镜
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DCM-40/60是一款设计独特的显微镜，可分别或观察物体的表面和底面图像，并对两图像进行比较，还可以通过测量装置测量两图像（表面和底面）的偏差。用途：直接测量AB两个面的错位尺寸

可选的物镜有五种，放大倍率从50X~100X。测量精度可达1μm。

DCM-40/60主要应用于微电子行业，特别是在半导体行业。产品上下面尺寸有偏移时就可以直接对比测量，减少其它间接测量方式的误差且不会损坏产品。例如：晶圆划片基准印字偏移，柔性线路板线路间距，陶瓷电容片切割对位和IC框架边缘质量等应用。

规格：

测量步骤：

1.将"光路选择开关"旋转到"Top&Bottom"位置，调整上、下物体的光轴至重合。

2.将工件置于工作台上。旋转"光路选择开关"到"Top" 位置，对焦上表面..

3.旋转“光路选择开关"到"Bottom” 位置，对焦下表面。.

4.将“光路选择开关"旋转到"Top&Bottom"位置，测量两图像的位置偏差。

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成立日期	2012年10月22日
法定代表人	吴克鸿
注册资本	500
主营产品	dage4000; ths-10,mfm1200;芯片开封机；超声波扫描显微镜；芯片开盖机；union测量显微镜；防爆片测厚仪；激光开封机；
经营范围	电子产品、电子检测设备、机电设备、化工产品的购销（以上不含易燃、易爆、危险化学品）；信息咨询（不含职业介绍及其他国家禁止、限制项目）；国内贸易（法律、行政法规、国务院决定规定在登记前须经批准的项目除外）；货物及技术进出口（法律、行政法规禁止的项目除外，法律、行政法规限制的项目须取得许可后方可经营）。
公司简介	深圳克拉克贸易有限公司从事可靠性测试设备的销售和测试服务。一、电子行业的失效分析设备销售及测试服务芯片分析手段汇总（xray,SAT,DECAP,BondTester,SEM,LaserDecapsulator)1.)激光开盖机激光开封机IC开盖芯片开盖IC开盖,时间约30秒左右,特别是铜引线封装有很好的开封效果.(用户长电,苹果)2)日本UNIONHISOMET显微镜测量焊球、邦定线高度Z轴测量 ...

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