高加速寿命检验

HALT（HighAccelerated LifeTesting）----高加速寿命试验，是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、振动和温度合并应力等测试。利用该测试可迅速找出产品设计及制造的缺陷、改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期，还可建立设计能力、产品可靠性的基础数据及日后研发的重要依据。

HALT主要应用于产品的研发阶段，能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输﹑贮藏﹑使用时的应力，能够提早使产品设计缺陷被激发出来，从而消除缺陷，大大提高设计可靠性。产品的设计周期大大减少。生产费用大大降低。因为交付的产品具备更高的可靠性，维修费用大大降低。

应用领域：

1．计算机类：车载显示屏，电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等 

2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。

3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备； 

4.其他：包装箱、运输设备等。

参考标准：GB/T29309 -2012等。