手机卡槽插拔寿命测试方法

   前智能手机的外观各种各样，但为了实现轻薄的设计理念，普遍使用SIM卡托结构来更换SIM卡或存储卡的设计。更换SIM卡或存储卡达到一定次数后，SIM卡槽可能会出现触针弹性不良或卡槽松动等问题，进而导致SIM卡接触不良而无法正常工作，直接的表现为手机无法检测到SIM卡或存储卡。

   目前实验室通常使用人工插拔SIM卡托来测试卡槽寿命，一二十次还好，当测试插拔次数达到几百上千次的时候，人员极度疲劳，浪费人力物力的效率不高，容易失误，导致客户的测试质量和周期无法保证。

    现有测试方式还有待于改进和优化。

   鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的特点是实现自动弹出SIM卡托及自动推入SIM卡托，并且可以按需要设定SIM卡托插拔的次数，大幅度降低人员劳动强度的提高了工作效率。

    本实用新型的技术方案如下：

    一种智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，包括：

    顶针机构，用于将SIM卡托弹出；

    推入机构，用于将SIM卡托推入卡槽;

    动力机构，用于为顶针机构和推入机构提供动力；

    所述顶针机构、所述推入机构分别通过连接件与所述动力机构固定连接。

    所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述动力机构包括：电机、第一同步带轮、第二同步带轮、动力同步带轮以及绕过第 一同步带轮、第二同步带轮、动力同步带轮的同步带；所述第一同步带轮、第二同步带轮、动力同步带轮呈三角形分布；所述电机与所述动力同步带轮电连接，通过所述动力同步带轮的转动带动第一同步带轮以及第二同步带轮转动。

    所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述顶针机构包括：第 一滑块，与第一滑块相适配的导轨以及设置在第 一滑块一端的卡托弹出顶针。

   所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述推入机构包括：第二滑块，与第二滑块相适配的导轨以及设置在第二滑块一端的卡托推杆。

    所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，第 一滑块连接件和第一同步带轮的连接点与第二滑块连接件和第二同步带轮的连接点、第 一同步带轮中心点、第二同步带轮的中心点位于同一条直线上。

    所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，还包括计数开关装置。

    所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述电机为减速电机。

   有益效果：本实用新型可根据需求预设插拔试验次数和插拔速度，实现对智能手机SIM卡自动插拔寿命测试。本实用新型可以大幅度提高测试次数的准确性及每次插拔力度的稳定性，提高了试验的可重复性，降低工人劳动强度，具有较好的推广价值。