涂层厚度测试镀层厚度测试

什么是镀层：

镀层是指为了好看或储存而在某些物品上的金属表面涂上一层有机物，或者一层稀薄的金属或为仿造某种贵重金属，在普通金属的表面镀上这种贵重金属的薄层。

复合镀层的制备是在镀液中加入一种或数种不溶固体颗粒，使固体颗粒与金属离子共沉积的过程，它实际上是一种金属基复合材料。

使用设备为金相显微镜。此方法适用于测量厚度＞1μm的金属膜层，可测量多层。被测样品需要经垂直于待测膜层取样进行金相制样，再在金相显微镜下观察并拍照测量待测膜层厚度。

应用领域：电子、汽车、航空、材料、金属、陶瓷品等各个制造领域。

常见厚膜测试方法：金相测厚、X射线荧光测厚 (XRF) 、SEM测厚、XPS深度剖析、台阶测厚等。
射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。
使用设备为扫描电子显微镜（SEM）。此方法测试范围宽，适用于测量厚度0.01μm~1mm的金属或非金属膜层。

此方法适用于测量纳米级厚度的膜层。XPS设备可以测试样品极表面的元素成分（每次测量的信息深度为5nm左右），并且可以在样品室内直接对样品表面进行溅射，可以去除指定厚度（纳米级）的表层物质，这两个功能结合使用就可以测量出纳米级膜层的厚度；