AEC元器件支撑性技术标准

AEC元器件支撑性技术标准

（1）AEC-Q001《半导体器件电参数控制指南》

该标准指导半导体器件承制方利用统计技术监控半导体器件和分立器件的电参数极限值。电参数平均值测试是用来检测半导体器件异常的统计方法，通过剔除这些电参数偏离平均值的器件可以提高器件批质量的可靠性。

（2）AEC-Q002 《统计结果分析指南》

该标准是基于统计原理，指导器件承制方对统计结果进行分析，属于统计良率分析的指导原则。通过对统计结果的分析可以剔除容易产生问题的整批器件。

（3）AEC-Q003《对集成电路电性能进行表征的指南》

该标准是针对器件的电性能表现所提出的特性化指导原则，用来生成产品、制程或封装的规格与数据表，目的在于收集组件、制程的数据并进行分析，以了解此组件与制程的属性、表现和限制，以及检查这些组件或设备的温度、电压、频率等参数特性表现。

（4）AEC-Q004《产品零缺陷指南》

该标准是一套零缺陷指导原则，标准中提出了一系列的流程步骤以及各阶段采用的工具或方法，用来指导供货商或用户如何在产品生命周期中使用工具和制程达成零缺陷的目标。由于AEC-Q004不是强制性规范，不同的应用模式会需要不同的工具或生产方法，AEC-Q004是在指导原则中提出了建议性指南。

（5）AEC-Q005《无铅元器件测试要求》

该标准规定了汽车用无铅电子元器件与无铅特性有关试验方法以及低的鉴定要求。

（6）AEC-Q006《采用铜引线互联元器件的鉴定要求》

该标准规定了采用铜引线互联的元器件鉴定要求。