可靠性测试办理的重要性
可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求，验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺，工装，工作流程，零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些，产品性能才是可以信任的，产品的质量才是过硬的。
电子产品可靠性实验目的：在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况；生产阶段为监控生产过程提供信息；对定型产品进行可靠性鉴定或验收；暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据；在设计阶段采取提高可靠性的措施，比起以后各阶段采取措施耗资Zui少，效果也显著。
每个标准都包括用于典型电子产品中元器件的失效率模型，比如IC、二极管、晶体管、电容器、继电器、开关和连接器。失效率是以实际应用中获得适用的数据为依据的。这两种方法之间有几个不同点，其中明显的一个不同点是失效率的表示法，MIL-STD-217和GJB299B中都将失效率表示为失效次数106h，而Bellcore失效率表示为失效次数109h。作为MTBF计算的实例，应假定一个具有4个元器件的产品。
它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化规律。通过寿命试验，可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析，可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理，作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行（批量保证）试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验，这就是加速寿命试验。寿命试验（MTBF）是研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中重要基本的项目之一，它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化规律。
电磁兼容抗试验：静电放电抗扰度试验：接触放电+15kV，空气放电+15kV，放电次数正负极性各10次。工频磁场试验：测试端口外壳端口，磁场强度1000A/m，测试方向X，Y，Z三个轴向。脉冲磁场试验：测试端口外壳端口，磁场强度1000A/m，试验次数正负极性各10次，测试方向X，Y，Z三个轴，向。射频电磁场辐射试验：试验等级3级，测试频率80MHz-1000MHz，试验场强10V/m。阻尼振荡磁场试验：试验等级5级，磁场强度100A/m。
深圳市环测威检测技术有限公司(Shenzhen CTB testing technology Co., LTD，英文简称“CTB”)是一家主要从事电子及电器产品安全（LVD）、电磁兼容（EMC）、重金属和有害物质分析测试和认证（RoHS、REACH、卤素和偶氮）以及无线电通讯认证测试机构。