MTBF试验报告多久可以出
更新:2025-01-24 08:56 编号:14773600 发布IP:113.88.154.202 浏览:90次详细介绍
MTBF试验报告多久可以出
可靠性测试办理的重要性
可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求,验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺,工装,工作流程,零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些,产品性能才是可以信任的,产品的质量才是过硬的。
可靠性设计是根本,可靠性设计的意义。1.可靠性贯穿于电子产品的整个寿命周期,从产品的设计、制造到安装、使用、维护的个阶段都有一个可靠性问题,前提要先抓好可靠性的设计;2.随着科学技术的进步和经济技术发展的需要,电子产品日益向多功能、小型化、高可靠性的方向发展;3.电子设备或系统广泛应用于各种场所,会遇到各种复杂的环境因素,如:高温、高湿、低气压、有害气体、霉菌、冲击、振动、辐射、电磁.4.在设计阶段采取提高可靠性的措施,比起以后各阶段采取措施耗资Zui少,效果也显著。
一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in)/EFR(Early Failure Rate)/HTOL(HighTemperature Operating Life)/TDDB(Time dependent DielectricBreakdown),对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(High Temperature GateBias)/HTRG(High Temperature Reverse Bias)/BLT(Bias LifeTest)/Intermittent Operation Life等。
每个标准都包括用于典型电子产品中元器件的失效率模型,比如IC、二极管、晶体管、电容器、继电器、开关和连接器。失效率是以实际应用中获得适用的数据为依据的。这两种方法之间有几个不同点,其中明显的一个不同点是失效率的表示法,MIL-STD-217和GJB299B中都将失效率表示为失效次数106h,而Bellcore失效率表示为失效次数109h。作为MTBF计算的实例,应假定一个具有4个元器件的产品。
一般来说为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验,是为预测从产品出厂到其使用寿命结束期间的质量情况,选定与市场环境相似度较高的环境应力后,设定环境应力程度与施加的时间,主要目的是尽可能在短时间内,正确评估产品可靠性。可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求,验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺,工装,工作流程,零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些,产品性能才是可以信任的,产品的质量才是过硬的。
深圳市环测威检测技术有限公司(Shenzhen CTB testing technology Co., LTD,英文简称“CTB”)是一家主要从事电子及电器产品安全(LVD)、电磁兼容(EMC)、重金属和有害物质分析测试和认证(RoHS、REACH、卤素和偶氮)以及无线电通讯认证测试机构。
可靠性测试办理的重要性
可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求,验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺,工装,工作流程,零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些,产品性能才是可以信任的,产品的质量才是过硬的。
可靠性设计是根本,可靠性设计的意义。1.可靠性贯穿于电子产品的整个寿命周期,从产品的设计、制造到安装、使用、维护的个阶段都有一个可靠性问题,前提要先抓好可靠性的设计;2.随着科学技术的进步和经济技术发展的需要,电子产品日益向多功能、小型化、高可靠性的方向发展;3.电子设备或系统广泛应用于各种场所,会遇到各种复杂的环境因素,如:高温、高湿、低气压、有害气体、霉菌、冲击、振动、辐射、电磁.4.在设计阶段采取提高可靠性的措施,比起以后各阶段采取措施耗资Zui少,效果也显著。
一般常见的寿命实验方法有BI(Burn-in)/EFR(Early Failure Rate)/HTOL(HighTemperature Operating Life)/TDDB(Time dependent DielectricBreakdown),对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(High Temperature GateBias)/HTRG(High Temperature Reverse Bias)/BLT(Bias LifeTest)/Intermittent Operation Life等。
每个标准都包括用于典型电子产品中元器件的失效率模型,比如IC、二极管、晶体管、电容器、继电器、开关和连接器。失效率是以实际应用中获得适用的数据为依据的。这两种方法之间有几个不同点,其中明显的一个不同点是失效率的表示法,MIL-STD-217和GJB299B中都将失效率表示为失效次数106h,而Bellcore失效率表示为失效次数109h。作为MTBF计算的实例,应假定一个具有4个元器件的产品。
一般来说为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验,是为预测从产品出厂到其使用寿命结束期间的质量情况,选定与市场环境相似度较高的环境应力后,设定环境应力程度与施加的时间,主要目的是尽可能在短时间内,正确评估产品可靠性。可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求,验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺,工装,工作流程,零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些,产品性能才是可以信任的,产品的质量才是过硬的。
深圳市环测威检测技术有限公司(Shenzhen CTB testing technology Co., LTD,英文简称“CTB”)是一家主要从事电子及电器产品安全(LVD)、电磁兼容(EMC)、重金属和有害物质分析测试和认证(RoHS、REACH、卤素和偶氮)以及无线电通讯认证测试机构。
法定代表人 | 刘纯 | ||
注册资本 | 100 | ||
主营产品 | CE认证,FCC认证,FCC-ID,SRRC认证,PSE认证,TELEC认证,质检报告 | ||
经营范围 | 一般经营项目是:电子产品、电气产品、机械产品、玩具及婴童产品、化妆品、饰品、纺织品、服装、鞋材、建材、轻工产品、节能产品、汽车电子及材料、新能源、照明产品、LED产品、医疗器械、环境及化学、金属材料及制品、轻工产品的质量鉴定、检验、检测、认证。(法律、行政法规、国务院决定禁止的项目除外,限制的项目须取得许可后方可经营),许可经营项目是:电子产品、电气产品、机械产品、玩具及婴童产品、化妆品、饰品、纺织品、服装、鞋材、建材、轻工产品、节能产品、汽车电子及材料、新能源、照明产品、LED产品、医疗器械、环境及化学、金属材料及制品、轻工产品的认证 | ||
公司简介 | 深圳市环测威检测技术有限公司(ShenzhenCTBtestingtechnologyCo.,LTD,英文简称“CTB”)是一家主要从事电子及电器产品安全(LVD)、电磁兼容(EMC)、重金属和有害物质分析测试和认证(RoHS、REACH、卤素和偶氮)以及无线电通讯认证测试机构。中心目前拥有齐全的Safty、EMC、R&TTE、ROHS检测实验室。本实验室是严格按照ISO/IEC17025 ... |
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