HAST老化测试广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。
应用场景
HAST高加速老化测试是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到模具/装置上。HAST高加速老化测试已成为某些行业的标准，特别是在半导体，太阳能和其他工业中，作为标准温度湿度偏差测试（85C/85%RH—1000小时）的有效替代
HAST是加速防潮测试的更加加速版本，与高温/高湿度测试（85C/85%RH）相比HAST会产生更多成分，接触由于湿气驱动的腐蚀和更多的绝缘劣化。HAST完成了主要用于塑料密封组件。下表显示了常见的表格与HAST相关的测试标准。测试在指定的温度和相对湿度下进行湿度或压力。大气通常具有大于100℃的温度，在a水蒸气加压状态，HAST有时被归类为组合测试压力也被认为环境参数。有饱和和HAST和不饱和品种。前者通常在121℃的条件下完成RH，后者在110,120或130℃和85%RH的条件下，完成测试电子元件的通电通常是不饱和类型。HAST是一个相当极端的测试，加速因子在几十到几百倍之间，85C/85%RH的条件下，这种极端的加速使得检查非常重要失败模式。
