| 标准号StandardNo. | 中文标准名称Standard Title inChinese | 英文标准名称Standard Title inEnglish | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T5594.4-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法 | Test methods forproperties of structure ceramic used in electronic components--Testmethod for dielectric loss angle tangent value | 废止 | 1986-12-01实施 |
| GB/T5594.4-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 | Test methods forproperties of structure ceramic used in electronic components anddevice—Part 4: Test method for permittivity and dielectric lossangle tangent value | 现行 | 国标委计划[2006]48号 |
GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路等基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MHz，温度从室温至500℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测定。
标准全文查看/下载
http://c.gb688.cn/bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=58AA90BB5D22238A5BA3F40CD8A441E0
