| 标准号StandardNo. | 中文标准名称Standard Title inChinese | 英文标准名称Standard Title inEnglish | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T5594.8-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定 | Test methods forproperties of structure ceramic used in electroniccomponents--Determination of microstructure | 废止 | 1986-12-01实施 |
| GB/T5594.8-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法 | Test methods forproperties of structure ceramic used in electronic components anddevice—Part 8: Test method for microstructure | 现行 | 国标委计划[2006]48号 |
GB/T5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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