试验目的:考核产品对低气压工作环境(如高空工作环境)的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱;易
易产生电晕放电、介质损耗增加、电离;气压减小使散热条件变
差，会使元器件温度上升。这些因素都会使被试样品在低气压条件下丧失规定的功能，有时会产生**性损伤。
试验条件:被试样品置于密封室内，加规定的的电压，从密封室降低气压前20min直至试验结束的一段时间内，要求样品
温度保持在25+-1.0℃的范围。密封室从常压降低到规定的气压
再恢复到常压，并监视这‘过程中被试样品能否正常工作，微电路被试样品所施加电压的频率在直流到20MHz的范围内，
电压引出端出现电晕放电被视为失效。试验的低气压值是与海
拔高度相对应的，并分若干档，如微电路低气压试验的A档气压值是58kPa，对应高度是4572m，E档气压值是1.1kPa，对
寸应高度是30480m等等。
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