根据 ASTM-D495,电弧电阻表示为材料在受到间歇性发生的高电压、低电流特性电弧时抵抗表面导电路径形成的秒数。标称厚度为3mm的测试结果被认为是材料在任何厚度下的性能的代表。
该测试方法初步涵盖了相似材料之间的区别,即它们对靠近绝缘表面的高电压、低电流电弧作用的抵抗力,意图在其中形成导电路径或由于局部热和化学分解和侵蚀而导致材料导电。
该测试方法使用干燥,未受污染的试样表面,但测试方法ASTMD2132,D2303和D3638使用潮湿,受污染的试样表面。建议将其用于工程目的,并有助于确定该测试方法在质量控制目的中的某种程度的重要性。该测试方法不适用于在电弧作用下不产生导电路径的材料,或熔化或形成流体残留物的材料,这些残留物将导电残留物漂浮出活动测试区域,从而防止导电路径的形成。