限值要求根据 IEC 61000-6-4 标准,工业环境下设备在 150kHz-30MHz 频段的传导骚扰限值为79dBμV(准峰值)和66dBμV(平均值)。测试需在屏蔽室内进行,背景噪声应低于限值 6dB 以上。
测试配置
人工电源网络(LISN):使用 50Ω/50μH 的 V 型 LISN,接地阻抗需≤2.5mΩ,采用铜编织带或 L 型铜板连接至参考接地板。
频谱分析仪:设置峰值检波器快速扫描,再对准峰值(QP)和平均值(AV)进行单点测量,带宽 30Hz。
被测设备(DUT):水平放置于 0.8m 绝缘台,电源线长度控制在 0.8-1m,避免与其他线缆耦合。
差模与共模干扰区分
元件级失效分析
冗余设计风险:在共模电感两侧使用 Y 电容(如 CY1 和 CY2)可能形成旁路路径。例如,3MHz 时 4.7nF 电容阻抗约为 10Ω,远低于共模电感(10mH 阻抗约 200kΩ),导致共模电流绕过滤波器。
优化方法:仅在电感输出侧保留 Y 电容,输入侧 Y 电容(CY1)需移除或替换为 0.1nF 以下小容值电容。
绕制方式:双线并绕漏感小但分布电容大(10-20pF),适合低频;两组分开绕漏感大(5-10μH)但分布电容小(<5pF),适合高频。
寄生电容计算:共模电感的寄生电容(C_par)可通过公式 \(C_{\text{par}} = \frac{1}{(2\pi f_{\text{SRF}})^2 L_{\text{cm}}}\) 估算。例如,10mH 电感的自谐振频率为 100kHz 时,C_par≈253pF,需通过分段绕制或 Z 型绕法降低至 < 10pF。
ESL 影响:X 电容的等效串联电感(ESL)可能导致高频段滤波失效。例如,1μF 电容的 ESL 若为 0.5nH,自谐振频率(SRF)约为 71MHz,超出 30MHz 频段时阻抗转为感性。
优化方法:并联多个小容值电容(如 0.1μF+0.01μF),降低等效 ESL 至 0.1nH 以下,使 SRF 提升至 159MHz。
X 电容(差模电容):
共模电感:
Y 电容(共模电容):
PCB 布局与接地问题
测试步骤
基线测试:记录未接滤波器时的传导频谱,确认干扰类型(DM/CM)和超标频段。
元件替换:逐步更换 X/Y 电容、共模电感,对比测试结果。例如,将 X 电容从 1μF(ESL=0.5nH)替换为 0.1μF+0.01μF(ESL=0.1nH)后,30MHz 频段辐射可降低 10-15dB。
近场扫描:使用磁场探头(如 H-Field Probe 100kHz-3GHz)定位干扰源。例如,在共模电感表面检测到高频磁场(>10MHz),可能是绕制方式不当导致的寄生电容耦合。
整改案例
问题现象:10MHz 频段共模干扰超标 12dB,自谐振频率测试显示为 50kHz,寄生电容 253pF。
整改措施:将双线并绕改为分段绕制,寄生电容降至 8pF,自谐振频率提升至 560kHz,10MHz 频段干扰降低至限值以下。
问题现象:3MHz 频段共模干扰超标 15dB,近场扫描显示共模电感输入侧场强异常。
整改措施:移除输入侧 Y 电容(CY1),共模电感阻抗恢复至 200kΩ,3MHz 频段干扰降低至限值以下。
案例 1:冗余 Y 电容导致的共模旁路
案例 2:共模电感寄生电容过高
| 工具类型 | 型号 / 品牌 | 功能描述 |
|---|
| 频谱分析仪 | Keysight N9020B | 覆盖 30Hz-3GHz,支持峰值 / 准峰值检波,内置 EMC 测试模板 |
| 近场探头套装 | ETS-Lindgren 3169 | 包含电场探头(30MHz-1GHz)和磁场探头(100kHz-3GHz),分辨率 0.5mm |
| 网络分析仪 | Rohde & Schwarz ZNB20 | 测量共模电感的插入损耗(S21)和自谐振频率(SRF) |
| 电流探头 | Pearson 4100(差模) | 带宽 100kHz-1GHz,灵敏度 1mV/A,用于差分电流测量 |
| Tektronix TCP312(共模) | 带宽 50MHz,灵敏度 10mV/A,用于共模电流测量 |
工业滤波电源的传导干扰问题需从元件选型、PCB 布局和测试验证三个维度综合优化:
元件层面:优先选择低 ESL 的 X 电容和低寄生电容的共模电感,避免冗余 Y 电容设计。
布局层面:严格控制地平面分割、Y 电容接地路径和输入输出线间距。
测试层面:通过近场扫描和参数测量(如共模电感的自谐振频率)准确定位失效点,结合仿真工具(如 LTspice)优化滤波参数。