剖面制样技术--金相切片
2025-01-07 08:00 163.125.213.23 10次- 发布企业
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- 金相切片,剖面制样,失效分析
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产品详细介绍
金相切片的必要性?
对于芯片内部的纵深缺陷观察或结深测量来说,样品的制备非常重要,应根据观察的目的截取适当的观察面,使所要观察的缺陷与观察面相交。主要方法有金相切片和聚焦离子束剖面制样技术。
什么是金相切片?
金相切片又名切片,是用特制液态树脂将样品包裹固封,进行研磨抛光的一种制样方法。检测流程包括取样、固封、研磨、抛光,Zui后提供形貌照片、开裂分层大小判断或尺寸等数据。它是一种观察样品截面组织结构情况的Zui常用的制样手段。
金相切片后的样品常用立体显微镜或金相显微镜观察外貌,如固态镀层或焊点、连接部位的结合情况、是否有开裂或微小缝隙、截断面不同成分的组织结构的截面形貌、金属间化合物的形貌与尺寸测量、电子元器件的长宽高等结构参数。失效分析的时候磨掉阻碍观察的结构,露出需要观察的部分,如异物嵌入的部位等,进行观察或失效定位,也可以用SEM/EDS扫描电镜与能谱观察形貌与分析成分,做完无损检测(如X-ray、SAM)的样品若发现疑似异常开裂、异物嵌入等情况,同样可以用切片的方法来验证。
金相切片试验步骤:
取样——镶嵌——切片——抛磨——腐蚀——观察。
其中镶嵌约需一天的时间,如果采用的是快速固化,则需要2小时。
金相切片的限制因素有哪些?
(1)样品如果大于5cm x 5cm x2cm,需用切割等方法取样后再进行固封与研磨。
(2)Zui小观察长度为1μm,在小的就需要用到FIB来继续做显微切口。
(3)常规固化比快速固化对结果有利,因为发热少、速度慢,样品固封在内的受压缩膨胀力较小,固封料与样品的黏结强度高,在研磨时极少发生样品与固封树脂结合面开裂的情况。
(4)金相切片是破坏性的分析手段,要小心操作,一旦被固封或切除、研磨,样品就不可能恢复原貌。
更多关于PCB或电子元器件金相切片分析请致电:
Helen 尹海英
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邮箱:helen@qwctest.com
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深圳市启威测标准技术服务有限公司
光明实验室:深圳市光明区白花洞丽霖工业区3栋1楼
龙华实验室:深圳市龙华新区油松第十工业区东环二路二号
成立日期 | 2016年09月29日 | ||
法定代表人 | 卿启辉 | ||
注册资本 | 200 | ||
主营产品 | 环境可靠性及失效分析、眼图测试、SI信号完整性测试、信号一致性验证、成分分析RT-IR/EDS、DSC、TGA、DMA、TMA;材料失效分析:声学扫描分析(C-SAM)、金相切片、X射线透射分析(X-ray)、 | ||
经营范围 | 信号完整性测试、移动产品检验检测、验证、材料性能检测及失效分析、材料热分析、成分分析、配方分析、无损检测 | ||
公司简介 | 启威测实验室成立于2016年,位于中国科技创新的前沿阵地——深圳,是一家专业的民营第三方检测实验室。自成立以来,我们一直致力于为电子产品及通讯产品行业提供全面的测试验证和分析服务。凭借卓越的服务质量和专业技术实力,已经获得CNAS(中国合格评定国家认可委员会)和CMA(中国计量认证)的认证,这不仅标志着我们的专业地位,也是对我们服务质量和技术能力的国家级认可。我们的服务启威测实验室专注于电子产品及 ... |
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