一、可信性点评
电子元件的可信性点评就是指对电子元件商品、半成品加工或仿真模拟样照(各种各样检测构造图型),根据各种各样可信性评价方法，如可靠性测试、加快寿命试验和迅速点评技术性等，并应用数理统计专用工具和相关仿真模拟手机软件来鉴定其使用寿命、失效率或可信性质量等级。另外，运用可信性挑选技术性来点评商品是不是达标，去除初期无效的不合格品。
伴随着电子元件可信性的规定持续提升，电子元件向超小型化、高一体化、智能化方位更为迅速的发展趋势，对元器件的可信性点评技术性日渐为大家所关心。近些年，在这些方面也陆续获得了许多好的进度。以集成电路芯片为例子，假如延用传统式的可靠性测试来点评商品可信性，针对处理速度高、生产制造总数少、实验花费价格昂贵的元器件商品，广泛觉得有非常大的艰难。有的生产制造企业，刚开始选用加快寿命试验方式，能够减少一些点评時间。之后，又选用芯片级可信性(WLR)评定技术性，在加工过程中或封裝前要检测构造样照开展可信性评定，提升了加工过程的操纵,使危害元器件可信性的多种要素在加工过程中获得了立即的清除和改善。近期，又进行了在研制开发设计就刚开始对于商品很有可能存有的失效模式，在路线设计方案、版图设计、工艺技术和封裝总体设计中开展结构设计优化，另外提升线上的可信性质量管理，使可信性点评技术性慢慢由“輸出”操纵(制成品操纵)移位来到“键入”端设计方案操纵、生产制造过程管理，逐渐创建了内建可信性的定义，进一步完成了电子元件的可信性是“设计方案和生产制造进来，而不是靠挑选出去的”意识。
二、可信性点评技术性的进度
以集成电路芯片可信性点评技术性为例子。它在原来的可靠性测试、可信性挑选、加快寿命试验等点评技术性的基本上，又发展趋势了芯片级可信性评价方法、微电子技术检测构造评价方法、构造加工工艺质量体系认证评价方法、比较敏感主要参数迅速评价方法、辅助设计可信性评价方法等。这种评价方法与传统式方式对比，都是有节约实验试品、减少实验時间、降低实验花费的特性，全是为了更好地融入现如今集成电路工艺集成电路芯片的发展趋势而出現的评价方法，分别都具备较强的发展前景。下边对这种评价方法做些简略的详细介绍。
