功率器件失效根因分析
功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外zui为关注的,也是特性参数测试无法评估的,失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。讯科标准拥有业界领先的专家团队及先进的失效分析设备,专注功率器件失效根因分析,可为客戶提供完整的失效根因分析服务。
服务范围
MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半导体器件等分立器件,以及上述元件构成的功率模块
检测标准
GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
GJB8897-2017军用电子元器件失效分析要求与方法
QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求
检测项目