芯片短路/开路？斯柯得电测精准定位，快速锁定故障区域

当芯片出现功耗异常增大、功能完全失效、端口对地短路等现象时，背后往往隐藏着短路或开路的电性故障。传统的功能测试只能确认“芯片已坏”，却无法回答“故障在哪里”。

斯柯得检测依托专业的 端口电性测试（IV曲线测试） 与 静态功耗（Iddq）测试 为您提供快速、精准的故障定位服务，将模糊的电性故障转化为清晰的物理位置，指引后续物理分析的精准方向。

◆ 我们如何通过电测实现精准定位？

我们通过精密的电参数测量，捕捉芯片的异常电学签名：

• IV曲线测试分析：

• 核心技术： 对芯片的每一个引脚进行电流-电压特性测试。

• 精准诊断： 通过与良品芯片的IV曲线进行比对，快速判断引脚是否存在短路（曲线斜率变大）、开路（曲线断开）或漏电（曲线异常），并精准定位到故障引脚及关联的内部电路模块。

• 静态功耗（Iddq）测试：

• 核心技术： 在静态条件下测量芯片的供电电流。

• 精准诊断： 当芯片内部出现桥接性短路、栅氧击穿等缺陷时，Iddq值会显著升高。该测试是发现此类隐蔽缺陷的利器。

◆ 斯柯得电测定位的服务价值

1. 定位精准，缩小范围：

• 将“整个芯片”的故障，缩小到“某个或某几个引脚/模块”的故障，极大提升后续物理分析的效率。

2. 无损快速，成本低廉：

• 在开盖前即可进行，不会对芯片造成损伤，是成本Zui低、速度Zui快的初步诊断方法。

3. 指引后续，避免盲目：

• 电测定位的结果，是后续 EMMI/OBIRCH热点定位 和 精准开盖 等物理分析Zui关键的输入依据，确保后续分析“有的放矢”。

◆ 典型应用场景

• 来料检验： 快速筛查批量芯片中的早期失效品。

• 功能失效分析： 对完全失效的芯片进行初步诊断。

• 可靠性测试后： 对高温、高压测试后参数漂移的芯片进行故障排查。

• Porting Debug： 协助研发人员定位芯片设计或制造中的缺陷。

立即咨询，让电性故障不再神秘！

请不要在黑暗中摸索。在进行复杂且昂贵的物理分析之前，让斯柯得的电测定位服务为您点亮第一盏“探照灯”。

欢迎通过官网或服务热线联系我们，提供您的芯片故障现象，获取初步的电测方案建议！

斯柯得检测 —— 以电测洞悉故障，用数据指引分析！