芯片漏电？IV曲线测试一秒现形，斯柯得精准定位漏电路径

功耗居高不下？芯片莫名发烫？性能间歇性异常？
这些问题的背后，往往隐藏着一个狡猾的“元凶”——芯片漏电。它如同一个隐秘的“水龙头”，在您不知情的情况下，持续消耗能量，直至引发系统故障。

传统的功能测试对此常常无能为力。斯柯得检测的 专业IV曲线测试服务，正是您寻找的“故障显微镜”。它能在毫秒级内捕捉到端口异常的电流-电压特征，让任何微小的漏电现象都无处遁形。

◆ IV曲线如何让漏电“一秒现形”？

我们将待测芯片的IV曲线与标准良品曲线进行高精度比对，任何偏离都揭示了故障的本质：

• 曲线反向抬高？ → PN结泄漏的典型特征，结区可能存在缺陷或污染。

• 整体曲线抬升，斜率变大？ → 栅氧击穿或沟道漏电的明确证据。

• 特定引脚对地/对电源电阻异常？ → 精准定位内部电路模块的短路或桥接。

◆ 斯柯得IV测试的服务价值

1. 精准诊断，非推断：

• 直接获取电学证据，将故障从“可能”变为“确定”，避免盲目猜测。

2. 无损快速，成本极低：

• 无需开盖，不对芯片造成任何物理损伤，是性价比Zui高的初步jingque定位方案。

3. 灵敏度高，洞察细微：

• 可检测到微安（μA）甚至纳安（nA）级别的微弱漏电，满足先进工艺芯片的测试需求。

4. 指引后续，高效闭环：

• IV测试定位到的故障引脚/模块，是后续 EMMI/OBIRCH热点定位 和 精准物理分析 Zui直接的输入，形成高效的分析闭环。

◆ 典型应用场景

• 静态功耗（Iddq）超标的故障根因分析。

• 低功耗产品的续航时间不达预期。

• 可靠性测试（如HTGB）后的失效品分析。

• 芯片端口输入阻抗异常的功能失效。

立即咨询，让隐藏的漏电危机浮出水面！

不要再为飘忽不定的功耗问题而困扰。请立即致电斯柯得，让我们的IV曲线测试为您提供Zui直接的故障证据。

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斯柯得检测 —— 用数据说话，让漏电故障一目了然！