冷热冲击测试（两箱法/三箱法），提供精准温度冲击

当产品需要在极端温度环境间快速切换时，其可靠性面临严峻考验。斯柯得检测提供专业的冷热冲击测试服务，采用两箱法及三箱法测试方案，通过瞬间温度剧变，精准验证产品耐温度冲击能力，快速激发潜在缺陷，为产品质量提供Zui严苛的验证保障。

专业测试方法

两箱法冲击测试

• 测试原理：样品在高温箱和低温箱间快速转换

• 温度范围：-65℃～+150℃

• 转换时间：＜15秒（样品实测）

• 驻留时间：根据产品热容量定制

三箱法冲击测试

• 测试原理：样品在高温区、低温区和常温区循环测试

• 温度范围：-55℃～+125℃

• 转换时间：＜10秒

• 适用产品：对温度稳定性要求更高的精密器件

测试能力详情

精准温度控制

• 温度偏差：≤±2℃

• 温度恢复时间：≤5分钟

• 驻留时间：可设定5分钟～999分钟

• 循环次数：Zui高可达1000次循环

测试标准覆盖

• JESD22-A104B 温度循环测试

• GJB 150.5A 军用装备实验室环境试验方法

• IEC 60068-2-14 温度变化试验

• GB/T 2423.22 温度变化试验

设备技术优势

先进设备平台

• 进口两箱式冷热冲击试验箱，转换时间＜15秒

• 三箱式冷热冲击试验箱，避免样品移动带来的机械应力

• 高精度温度传感器，实时监测样品实际温度

• 自动记录系统，完整保存所有测试参数

专业技术能力

• 精准的样品温度监控，确保测试有效性

• 丰富的故障诊断经验，快速定位温度冲击相关问题

• 定制化测试方案，满足特殊产品测试需求

• 完善的测试报告，提供详细数据和分析建议

测试应用价值

缺陷快速激发

• 芯片封装开裂、分层

• 焊点疲劳断裂

• BGA焊球裂纹

• 材料界面失效

质量提升验证

• 材料热匹配性验证

• 焊接工艺可靠性评估

• 封装结构完整性确认

• 产品寿命可靠性预测

专业服务流程

测试准备

• 分析产品使用环境

• 制定个性化测试方案

• 确认测试参数设置

测试执行

• 精准控制温度冲击

• 实时监测产品状态

• 完整记录测试数据

测试分析

• 专业数据分析

• 失效定位诊断

• 改进建议提供

立即预约服务

服务承诺

• 3个工作日内完成测试方案

• 严格按时完成测试项目

• 提供检测报告