EMC近场干扰定位技术

EMC近场干扰定位技术

一、定义与适用范围

近场干扰定位技术用于快速识别 EMC 辐射源，适用于 PCB 设计、电源、马达驱动、无线模块等。

二、法规要求与责任主体

不是强制流程，EMC 故障分析必备方法。制造商需建立 EMI 溯源体系。

三、测试项目与技术要点

近场探头用于定位以下噪声源：

1. MOSFET 开关节点

2. DC/DC 芯片电感

3. 时钟源附近噪声

4. PCB 边缘辐射

5. 电缆耦合干扰

技术要点：

• 使用 H 探头定位磁场噪声

• 使用 E 探头定位电场噪声

• 配合频谱仪调频段分析

• 使用金属屏蔽测试耦合路径

四、申请资料与流程

流程：样机通电 → 扫描 → 定位 → 确认 → 整改。
资料：频谱分析结果、探头图像记录。

五、常见问题与合规建议

常见问题：

• 误将次级辐射当成主噪声源

• 未记录扫描数据

建议在早期预扫阶段进行。

六、

近场定位是 EMC 整改的Zui重要手段，可极大减少整改周期和试验成本。