芯片可靠性测试与认证，为产品质量保驾护航

芯片可靠性测试与认证，为产品质量保驾护航
斯柯得检测——助力产品通过严苛认证，打造市场信任基石

可靠性测试体系

1. 环境适应性测试

• 极端温度验证

• 存储范围：-65℃~150℃（可扩展至-70℃~200℃）

• 温变速率：Zui高50℃/分钟（热冲击测试）

• 湿度耐久性

• 85℃/85%RH（标准湿热）

• 130℃/85%RH（高压蒸煮HAST）

• 气候综合应力

• 温度-湿度-振动三综合测试

• 盐雾/硫化氢气体腐蚀测试

2. 机械可靠性测试

• 振动耐久性

• 随机振动：0.04g²/Hz（50-2000Hz）

• 扫频振动：10-2000Hz（汽车电子标准）

• 冲击 robustness

• 机械冲击：5000g（0.3ms半正弦波）

• 连续冲击：20g（11ms，6个方向各3次）

3. 寿命加速测试

• 高温工作寿命

• 1000小时@125℃（AEC-Q100标准）

• 2000小时@150℃（车规增强要求）

• 早期失效率

• 77小时@150℃（ELFR测试）

• 统计模型：威布尔分布分析

认证服务能力

1. 车规认证

• AEC-Q100（芯片级）

• Grade 0：-40℃~150℃

• Grade 1：-40℃~125℃

• AEC-Q104（多芯片模块）

• 板级可靠性测试

• 系统级温度循环

2. 工业级认证

• JEDEC JESD47

• 静电防护（HBM/CDM）

• 闩锁效应测试

• GJB548（军品标准）

• 机械冲击：1500g（0.5ms）

• 离心加速：30000g

3. 消费电子认证

• JESD22系列

• 温度循环：-55℃~125℃（500循环）

• 高温存储：150℃（1000小时）

技术特色

1. 精准加速模型

• 阿伦纽斯温度加速模型

• 科芬-曼森疲劳模型

• 艾琳腐蚀模型

2. 智能监控系统

• 实时数据采集（温度/电压/电流）

• 异常自动报警

• 远程监控平台

3. 失效预警机制

• 参数漂移趋势分析

• 早期故障特征识别

• 寿命预测模型

服务流程

text

需求分析 → 方案设计 → 测试执行 → 数据评估 → 报告出具      ↓         ↓         ↓         ↓         ↓   1-2天     1-3天    按标准周期   3-5天     2-3天