核心服务：失效分析与可靠性测试

斯柯得检测聚焦芯片与电子元器件质量与寿命两大核心，提供从问题定位到风险预防的完整解决方案。我们不仅帮您找出"为什么坏了"，更助您验证"能用多久、多稳定"。

失效分析：精准定位，终结复发

1. 分析范围

• 芯片级：开封/去层、热点定位、电路探针、形貌与成分分析

• 板级：焊接质量、线路故障、物料兼容性

• 系统级：间歇性故障、信号完整性、环境适应性

2. 特色能力

• 无损起点：X-Ray、SAT超声扫描先行，避免样品破坏

• 精准定位：EMMI/OBIRCH漏电定位，锁定微米级缺陷

• 机理明确：SEM/EDS揭示物理缺陷与化学污染根源

• 闭环服务：提供从现象→数据→机理→改进的完整证据链

3. 典型场景

• 研发阶段功能异常、量产良率下滑、市场退货分析

• 竞争对手产品拆解、知识产权论证

可靠性测试：风险前置，品质背书

1. 测试体系

• 环境可靠性：高低温存储、温湿度循环、热冲击

• 机械可靠性：振动、冲击、跌落

• 寿命测试：高温工作寿命、老化测试

• 专项测试：静电防护、密封性、盐雾腐蚀

2. 标准覆盖

• JESD47、AEC-Q100、JEDEC、MIL-STD

• GJB国军标、GB国标及企业定制化标准

3. 应用价值

• 新品导入可靠性验证、质量认证数据支撑

• 设计缺陷早期发现、产品寿命预测与质保依据

服务优势

• 设备完备：从精密探针台到HAST高压加速老化箱，硬件自主可控

• 专家团队：超10年经验工程师主导项目，提供工程视角解读

• 效率承诺：失效分析常规7个工作日，可靠性测试按周期精准交付

• 增值服务：免费初检评估、加急通道、定期技术沙龙

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