无需东奔西走！斯柯得开盖、染色、X-Ray全掌握，一站式解决

无需东奔西走！斯柯得开盖、染色、X-Ray全掌握，一站式解决

芯片失效分析涉及多种技术手段，若需在不同机构间辗转协调，不仅耗时耗力，更可能导致数据割裂、片面、问题反复。

斯柯得检测彻底解决这一痛点！
我们完整掌握 开盖、染色、X-Ray 三大核心技术，构建一站式分析闭环，为您提供高效、连贯、根因明确的完整解决方案。

为什么"一站式"如此重要？

1. 数据连贯，逻辑严密

• 传统模式：X-Ray在A机构，染色在B机构，开盖在C机构，数据分散，难统一。

• 斯柯得模式：三大技术在同一实验室无缝衔接，从宏观筛查到界面诊断再到微观剖析，形成完整证据链。

2. 效率倍增，周期缩短

• 内部流程优化，消除机构间沟通与样品流转时间，整体分析周期缩短50%以上。

• 紧急项目启动加急通道，Zui快24小时内提供初步

3. 成本优化，价值提升

• 避免重复支付物流、沟通及管理成本。

• 通过精准的根因分析，从源头解决问题，避免故障复发带来的更大损失。

斯柯得一站式技术能力

典型工作流程

1. 需求对接：专家团队与您沟通故障现象，定制分析方案。

2. 技术执行：根据方案调用X-Ray、染色、开盖等技术，逐步深入。

3. 报告交付：提供包含原始数据、分析过程、根因及改进建议的完整报告。