


您是否对芯片内部的“暗伤”一无所知?是否因批次质量波动而困扰?斯柯得检测实验室提供专业的破坏性物理分析服务,通过一系列严谨的剖解流程,为您揭示芯片的内部真实结构,验证其工艺质量与一致性,是您进行质量仲裁、来料检验及高可靠性筛选的zhongji手段。
DPA是按照严格标准,对电子元器件进行解剖、制样、观察和测试,以检查其内部结构、材料、工艺是否符合标准要求的一系列分析技术。
我们的分析能力与流程:
外部检查: 对芯片外观、标记、引脚进行精细检查。
X射线检查: 无损检测内部引线键合、芯片粘接、空洞等缺陷。
样品开封: 精准去除封装,暴露芯片内部结构,保护键合丝完整。
内部检查: 利用高倍显微镜、SEM检查芯片表面、键合点质量、布线、钝化层等。
截面分析: 对特定部位进行垂直剖切,jingque测量尺寸、检查界面结合、观察微观结构。
主要依据标准: GJB 4027A、MIL-STD-1580、JESD22等国内外军用及行业标准。
质量一致性验证: 对批量采购的芯片进行抽样DPA,是判断其批次质量是否稳定、可靠的Zui有效方法。
来料检验与真伪鉴别: 有效发现以次充好、翻新、假冒的芯片,规避供应链风险。
工艺缺陷暴露: 精准发现如键合不良、芯片开裂、粘接空洞、钝化层损伤、腐蚀等内部缺陷。
失效分析辅助: 为电性失效的芯片提供直接的物理证据,定位失效发生的具体位置与形态。
高可靠性保障: 对于航空航天、、汽车电子等领域,DPA是元器件上板前必不可少的质量控制环节。
流程规范,标准严格: 我们严格遵循标准作业流程,确保分析过程的规范性与结果的可比性、性。
设备精良,洞察入微: 配备金相切割机、镶嵌机、研磨抛光机、高倍显微镜、SEM等全套高端制样与分析设备,确保能揭示Zui细微的缺陷。
经验丰富,判断精准: 我们的分析工程师具备丰富的判据经验,能准确识别各类工艺缺陷,并提供清晰的缺陷判定
报告详实,清晰: 提供包含大量高清微观图像的详细分析报告,图文并茂地展示分析过程与发现,一目了然。
不要等到整机故障才追悔莫及。一次严谨的破坏性物理分析,是您对产品质量Zui负责任的投资。
| 成立日期 | 2024年06月09日 | ||
| 主营产品 | 斯柯得公司(SCOTEK)是一家具有CMA/CNAS认可资质的第三方专业检测机构,具备向社会出具公正性检测报告的资格,为客户提供全方位、一 站式的产品测试服务以及检测、认证、咨询及培训等技术服务; | ||
| 公司简介 | 斯柯得公司(SCOTEK)是一家具有CMA/CNAS认可资质的第三方专业检测机构,具备向社会出具公正性检测报告的资格,为客户提供全方位、一站式的产品测试服务以及检测、认证、咨询及培训等技术服务。公司在深圳、惠州、东莞等地拥有实验室,配备各类检测设备,可提供各领域产品的可靠性、失效分析、安规、EMC、认证、化学、欧盟CE认证、FCC认证等检测认证业务;SCOTEK一直坚持以先进的测试方法、领先的技术 ... | ||