芯片可焊性测试_引脚强度测试

更新:2025-11-21 08:00 编号:45100830 发布IP:119.123.72.64 浏览:3次
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详细介绍

您是否担心芯片引脚氧化导致焊接不良?是否疑虑引脚强度不足在组装中断裂?斯柯得检测实验室提供专业的芯片可焊性测试与引脚强度测试服务,精准评估引脚焊接性能与机械牢固度,从两大关键维度为您扫清组装隐患,确保芯片在PCB板上坚若磐石。

核心服务一:芯片可焊性测试 —— 焊接质量的“先行官”

我们模拟实际焊接工艺,科学评估芯片引脚(焊球、焊端)被熔融焊料润湿的能力,预测焊接成功率。

  • 测试方法:

    • 润湿平衡测试: 定量分析润湿力与时间曲线,提供客观的润湿参数。

    • 浸渍测试: 依据标准将引脚浸入焊锡,定性评估焊料涂覆的均匀性与完整性。

  • 检测重点:

    • 评估引脚是否存在氧化、污染等导致不润湿或弱润湿的缺陷。

    • 验证引脚镀层(如Sn、Au等)的质量与耐久性。

    • 检查焊球翘曲等可能导致焊接后开路或虚焊的隐患。

  • 核心价值: 提前发现焊接性不良的批次,避免在SMT贴装后产生大批量虚焊、冷焊等高昂的返工成本与质量风险。

核心服务二:引脚强度测试 —— 机械稳固的“守护者”

我们对芯片引脚(包括BGA焊球、QFP/LQFP引脚等)施加机械应力,检验其结合强度与牢固度。

  • 测试项目:

    • 引线拉力测试: 对键合丝或外部引脚施加拉力,检测其与芯片/封装体的结合强度。

    • 焊球剪切测试: 对BGA焊球施加剪切力,测量其脱离焊盘所需的力,评估焊球与芯片基板的结合质量。

    • 引脚弯曲测试: 对引脚施加推力或弯曲力,检验其抗变形能力与韧性。

  • 检测重点:

    • 发现因工艺缺陷(如沾污、 intermetallic compound 过厚)导致的结合力不足。

    • 评估引脚本身的机械性能是否符合要求。

    • 防止在插件、测试、运输或使用过程中因应力导致引脚翘起、断裂或脱落。

斯柯得检测的整合价值:双重保障,一步到位

我们提供从“可焊性”到“强度”的一站式测试方案。 一颗芯片可以先进行可焊性测试,评估其焊接潜能;随后进行引脚强度测试,验证其焊接后的物理稳固性。这种连贯的测试,为您提供了芯片在装配环节全流程的可靠性数据,是实现高直通率(FPY)的强大保障。


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