芯片检测实验室_专业失效分析_可靠性测试

斯柯得检测实验室：专业芯片失效分析 + 可靠性测试，定位根因，预见未来

当芯片意外失效，当产品可靠性存疑，您需要的不仅是一份数据，更是一个确切的“病因”与“药方”。斯柯得检测实验室，依托CNAS/CMA双资质认证的先进实验平台，集“专业失效分析”与“全面可靠性测试”于一体，不仅告诉您“怎么了”，更揭示“为什么”，助您根除隐患，提升产品内在品质。

核心服务一：专业失效分析 —— 精准定位故障的“法医专家”

我们致力于破解每一个失效背后的谜题，为您提供从现象到根源的完整解决方案。

• 先进分析平台： 配备扫描电镜（SEM）、能谱仪（EDS）、X射线、开封机、探针台等全套高端设备，支持从非破坏性分析到内部结构观察的全流程深度探查。

• 系统分析思路：

• 电学特性分析： 精准定位短路、开路、漏电等电性故障点。

• 形貌观察： 通过显微镜、SEM细致观察芯片表面及内部结构缺陷。

• 成分分析： 利用EDS等对污染物、异常析出物进行jingque成分判定。

• 剥层分析： 逐层深入，精准定位失效发生的物理位置。

• 价值体现： 快速定位失效根因（如EOS/ESD损伤、工艺缺陷、材料不符等），为改进设计、工艺和用料提供决定性证据，避免问题重复发生。

核心服务二：全面的可靠性测试 —— 预见产品未来的“体检中心”

我们模拟各种严苛环境，提前暴露产品潜在缺陷，验证其生命周期内的稳健性。

• 环境可靠性测试：

• 三综合测试（温湿度+振动）

• 高低温循环、温度冲击

• 耐盐雾测试、防霉菌测试

• 低气压测试（高空模拟）

• 机械可靠性测试：

• 机械振动、冲击、碰撞

• 跌落测试、插拔寿命

• 寿命测试与加速测试：

• 高温工作寿命

• 温湿度偏压寿命

我们的独特优势：分析与测试的闭环联动

当可靠性测试中暴露失效，我们的失效分析团队可立即介入，进行深度根因追溯。 这种“测试-分析-反馈-改进”的闭环服务，能Zui高效地帮助您提升产品本质可靠性，缩短研发周期，节约后续成本。

为什么选择斯柯得检测实验室？

1. 资质： CNAS/CMA双资质保障，报告全球互认。

2. 设备精良： 持续投入引进国际先进检测与分析设备。

3. 专家团队： 拥有多年从业经验的工程师与分析师团队。

4. 一站式服务： 从测试方案设计、样品接收、全程测试到报告解读，我们提供全程无忧的服务体验。

5. 高效响应： 提供标准与加急服务通道，全力保障您的项目进度。

【立即合作，为您的芯片质量构建坚实防线！】

无论是新产品研发验证，还是量产异常解析，斯柯得检测实验室都是您Zui可靠的合作伙伴。